DFT可測試性設(shè)計工程實踐

開課地點：	珠海
授課時間：	2011年9月17-18日
授課顧問：	陳老師
開課時間：	2011-9-17
市場報價：	0
購買價格：	0
審核時間：	我要報名2011-09-07 16:08:16

　　

學習對象

研發(fā)總監(jiān)、系統(tǒng)工程師、研發(fā)經(jīng)理、測試經(jīng)理、制造技術(shù)經(jīng)理、新產(chǎn)品導入(NPI)經(jīng)理及骨干工程師等

課程目標

課程背景 ◇測試是產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段,也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),如何將測試工作開展的更全面、更仔細、更專業(yè)完善也是眾多電子通信企業(yè)所追求的目標。 ◇建立可測試性設(shè)計是開發(fā)軟硬件系統(tǒng)的關(guān)鍵，尤其是那些對工作可靠性要求高的系統(tǒng)。 ◇若沒有可測試性設(shè)計，在產(chǎn)品正式使用之前就很難發(fā)現(xiàn)設(shè)計缺陷，而且工作中出現(xiàn)的故障也很難檢測和診斷。 ◇采用可測試性設(shè)計可以增加系統(tǒng)的可測試性，提高產(chǎn)品質(zhì)量，并減少產(chǎn)品投放市場的時間及測試費用。 【課程收益】 學完本課程后，學員可獲得： ▲深刻理解可測性設(shè)計(DFT)的基本思想和基本原理 ▲熟悉可測性設(shè)計(DFT)的基本業(yè)務流程 ▲全面掌握可測性設(shè)計(DFT)的設(shè)計方法 ▲有效構(gòu)建可測性設(shè)計(DFT)的體系平臺和貨架技術(shù)

課程內(nèi)容

1、可測性設(shè)計(DFT)概述  產(chǎn)品生命周期V模型  電子信息產(chǎn)品測試所面臨的問題  什么是可測性設(shè)計(DFT) ※思考：如何深刻理解可測性設(shè)計(DFT)  可測性的物理特征表述  可測性的測度形式 ※※討論：以下各功能模塊的可測性測度是怎樣的？  可測性設(shè)計(DFT)的效益分析  可測性設(shè)計(DFT)基本要素  IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)  可測性設(shè)計(DFT)基本過程  可測性設(shè)計(DFT)中常用術(shù)語及縮略語 2、可測性設(shè)計(DFT)需求  整機研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源  整機研發(fā)測試的可測性(DFT)需求  單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源  單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求  單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源  單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求  單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求來源  單板生產(chǎn)測試的抽象模型 ※思考：單板生產(chǎn)測試的目的是什么？  單板生產(chǎn)測試路線  單板生產(chǎn)工藝測試基本原理  單板生產(chǎn)功能測試基本原理  單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求 ※※討論：本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測試方案和路線是怎樣的？  JTAG在生產(chǎn)測試中的應用  JTAG在生產(chǎn)測試中的可測性設(shè)計(DFT)需求  單板維修可測性設(shè)計(DFT)需求 ※※思考：本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段？ 3、可測性設(shè)計(DFT)基本方法  輸入輸出通道設(shè)計——測試控制物理通道  輸入輸出通道設(shè)計——外部測試命令集  輸入輸出通道設(shè)計——測試控制管理  輸入輸出通道設(shè)計——測試信息存儲與輸出  輸入輸出通道設(shè)計——外部儀器輸入輸出接口  內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——業(yè)務數(shù)據(jù)源自動生成  內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——差錯數(shù)據(jù)源自動生成  內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——容限/極限數(shù)據(jù)源自動生成  內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——故障數(shù)據(jù)源自動生成  能控性設(shè)計——測試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動  能觀性設(shè)計——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控  能觀性設(shè)計——系統(tǒng)業(yè)務狀態(tài)監(jiān)控  能觀性設(shè)計——單板運行狀態(tài)監(jiān)控  能觀性設(shè)計——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控  能觀性設(shè)計——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控  BIST設(shè)計——初始化自檢 ▲▲案例解讀 4、單板可測性設(shè)計(DFT)必須考慮的要素  機械結(jié)構(gòu)設(shè)計  自檢和自環(huán)設(shè)計  工裝夾具設(shè)計  測試點設(shè)計  芯片控制引腳設(shè)計  邊界掃描測試設(shè)計  EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計  如何設(shè)計以減少測試點 5、可測性設(shè)計(DFT)工程實施  可測性設(shè)計(DFT)工程實施步驟  可測性設(shè)計(DFT)工程實施障礙 ※※交流與探討：如何構(gòu)建可測性設(shè)計(DFT)體系和貨架技術(shù)

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